望遠鏡的次鏡
測試太空次鏡
準備發射至太空的光學元件需事先進行溫度和壓力的模擬測試。這類型的測試會在預設低溫環境的large environmental chambers之中進行。鏡片的測試需使用干涉儀，在壓力室外部進行測量，或者將其隔離在自己的室內，在大氣壓力下進行測量。同時，泵浦會產生高頻振動，使測試環境的變因增加。
4D 的 PhaseCam 泰曼-格林干涉儀能夠在振動的情況下進行測量，即使在距離被測試的光學元件數公尺遠也是如此。4D也提供了高解析度的 PhaseCam 和 AccuFiz 斐索干涉儀，可測量具斜度或非球面狀的凹面次鏡。為了驗證適應性光學的控制系統，4D 的 PhaseCam 系統可以測量輸入訊號和外部振動的模態反饋，由此得知光學元件的運作情形。
NanoCam HD 表面輪廓儀用於測量鏡片的表面粗糙度。 NanoCam HD 可以直接使用於機器人定位系統或龍門架上；或安裝在polishing station內以進行運作。
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AccuFiz
AccuFiz 斐索干涉儀適用於各種侷限的空間。輕巧以及堅固的設計在各種測試環境下皆可發揮其穩定的特性。標準的AccuFiz雷射干涉儀提供波長從532nm~1.55um，口徑則可提供從33mm~600mm，並支援水平或垂直兩種量測模式。
4D完整的產品線以及多種配件，提供更多樣的選擇以配合客戶各種應用以及需求。
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Optical Metrology for Space and Terrestrial Telescope Optics
A paper that explores how Dynamic Interferometry measures in adverse conditions, providing in-situ feedback and that allows for faster, more confident production of large mirrors and space-based optics.
Measurement of Space Optics and Structures
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