MEMS
MEMS 由尺寸為1至100微米(0.001至0.1毫米)的微型機械和機電元件組成,這些元件是使用沉積技術及蝕刻技術所製造的。MEMS 的主要結構中包含微型感測器,它能在接收到訊號後將這些信號進行處理並輸出。這些微型感測器能測量溫度、加速度、壓力、旋轉速度、濕度、聲音、磁場等其他參數。
4D Technology的婓索干涉儀能測量晶圓的平面度和粗糙度。而NanoCam HD 光學輪廓儀則可以對晶圓的粗糙度(不管塗層或未塗層)、量晶圓級元件(如微流控晶片)的形狀和形狀變化及切割和封裝設備等…進行測量。
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Measuring Sub-Angstrom Roughness
How do you measure roughness with sub-angstrom precision in a noisy manufacting environment?
Read this white paper for a break-down of the options, and illustrations of the challenges presented by different solutions.