MEMS

MEMS 由尺寸為1至100微米(0.001至0.1毫米)的微型機械和機電元件組成,這些元件是使用沉積技術及蝕刻技術所製造的。MEMS 的主要結構中包含微型感測器,它能在接收到訊號後將這些信號進行處理並輸出。這些微型感測器能測量溫度、加速度、壓力、旋轉速度、濕度、聲音、磁場等其他參數。

4D Technology的婓索干涉儀能測量晶圓的平面度和粗糙度。而NanoCam HD 光學輪廓儀則可以對晶圓的粗糙度(不管塗層或未塗層)、量晶圓級元件(如微流控晶片)的形狀和形狀變化及切割和封裝設備等…進行測量。

Related Products

相關產品連結

AccuFiz

AccuFiz 斐索干涉儀適用於各種侷限的空間。輕巧以及堅固的設計在各種測試環境下皆可發揮其穩定的特性。標準的AccuFiz雷射干涉儀提供波長從532nm~1.55um,口徑則可提供從33mm~600mm,並支援水平或垂直兩種量測模式。
4D完整的產品線以及多種配件,提供更多樣的選擇以配合客戶各種應用以及需求。

NanoCAM HD

NanoCam™ HD 動態輪廓儀,是少數可測量「公尺」級以上元件的量測設備,也同樣適用於各種精密金屬加工、塑膠和其他拋光鏡面的表面粗糙度量測需求。

Technical Resources

技術文件下載

Measuring Sub-Angstrom Roughness

How do you measure roughness with sub-angstrom precision in a noisy manufacting environment?

Read this white paper for a break-down of the options, and illustrations of the challenges presented by different solutions.