紅外線光學元件
紅外線光學元件由基板和抗反射塗層製成，可最大限度地提高 700 奈米 以上的性能。 紅外線光學元件常見於熱像儀、夜視裝置、光譜學以及用於 FLIR（前視紅外線）應用程序的成像和感測。
測試紅外線光學元件
製造商和系統整合者需要在其功能波長下測試紅外線光學元件和光學系統，以確保性能。 波長可以配合用於感測應用的近紅外線 (NIR)至到10.6 微米 (LWIR)，用於測量粗糙的表現、光刻光學等等。
4D Technology的紅外線干涉儀
不穩定的氣流不敏感，可以在生產車間、無塵室和環境測試室等惡劣環境中使用。
4D Technology 的 PhaseCam NIR 和 紅外線雷射干涉儀可以精確測量紅外光學元件的表面和波前品質，適用於從 1.053 到 10.6 微米波長範圍內的球面和平面紅外線光學元件和系統。這些儀器對振動和氣流紊亂不敏感，可在生產車間、無塵室和環境測試室等環境中使用。
斐索紅外線干涉儀可測量波長介於1.55至 10.6 微米的紅外線光學元件，不需全像元件即可測量非球面光學元件，包括拋光或粗磨光學元件和金屬表面、凹面、凸面和無焦紅外線組件以及紅外線望遠鏡和透鏡系統。
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3 Questions to Ask Before Buying an Infrared Interferometer
Addresses three key questions in assessing your need for an IR interferometer.