AccuFiz IR
緊湊、高性能，適用各種Infrared波長下的光學量測應用
無與倫比的性能、品質和價值的完美組合！可精確、可重複地測量表面形狀和透射波前質量。
HOT!!!
AccuFiz INFRARED
斐索干涉儀(Fizeau interferometers)
在光學計量領域提供了絕佳的性能、品質和價值。 可對各種樣品的表面形狀、曲率半徑和波前，進行精確且高重複性的量測。
wavelengths from 1.053um ~ 1.55um
量測IR光學零組件＠波長1.053 ~1.55um
AccuFiz 紅外線干涉儀可精確測量紅外線光學元件和精密表面。 AccuFiz 紅外線雷射干涉儀非常適合測量凹面、凸面和無焦紅外線零件，以及紅外線望遠鏡和透鏡系統。 它們捕捉高斜率的能力不需透過CGH即可測量非球面光學元件。
在生產環境以及實驗室中，AccuFiz 提供業界領先的重複性。 只有 AccuFiz 包含 Smart Zoom™，以確保在整個 1X–10X 變焦範圍內精確的平面解析度。 突破繞射極限的成像提供了無與倫比的分辨率，特別是在中空頻率下，可測量其他干涉儀錯過的拋光痕跡。
AccuFiz NIR
@1.053 or 1.064um
AccuFiz SWIR
@1.55um
| AccuFiz IR Specs | |
|---|---|
| Configuration | Fizeau interferometers |
| Acquisition | Temporal phase shifting, optional vibration-immune dynamic |
| Wavelength | NIR: 1.053, 1.064 µm |
| SWIR: 1.55 µm | |
| Aperture | NIR: 100 mm (4 in), 150 mm (6 in) |
| SWIR: 100 mm (4 in) | |
| Camera | NIR: 4MP, 12-bit (optional 2400 x 2400 at 1.064 µm) |
| SWIR: 512 x 512 | |
| Controls | Remote control focus, zoom |
| Zoom | NIR: Continuous 1–10X with pan; |
| SWIR: Continuous 1–10X with pan; | |
| Software | 4Sight™ Focus included |
| Size | NIR: 100 mm aperture: 51.4 cm (20.2 in) long; 150 mm aperture: 76.2 cm (30 in) long |
| SWIR: 51.4 cm (20.2 in) long | |
| Reflectivities | 1 – 100% |
4Sight Focus 軟體
全新的 4Sight Focus分析軟體 – 適用於4D所有的光干涉儀產品，可提供極快的取樣速度、豐富的視覺效果和完整的分析功能。
- 快速量測和分析
- 乾淨、可設定的使用者介面
- 簡單易學
- 深度分析能力
- 輕鬆數據輸出
- 智慧整合和自動化
Related Products
相關產品連結
AccuFiz
SIS配件
4D的SIS配件是一台選配的外部雷射光源，利用它可排除除感興趣表面之外的所有表面。 擁有SIS 模組即可讓您使用標準 AccuFiz 干涉儀測量透明光學的兩個表面。 您也可以透過單一測量設定計算透射波前誤差、光學厚度和均勻性
光學
配件
4D Technology 的光學安裝組件設定快速且重複性高，從而提高了產出亦保證了測量品質。 這些易於使用的安裝座不僅堅固且抗振。 安裝座有 4 吋和 6 吋兩種版本，可與市場上大多數品牌的斐索干涉儀相容，不需重複投資。