AccuFiz IR

緊湊、高性能,適用各種Infrared波長下的光學量測應用

無與倫比的性能、品質和價值的完美組合!可精確、可重複地測量表面形狀和透射波前質量。

HOT!!!

AccuFiz INFRARED

斐索干涉儀(Fizeau interferometers)

在光學計量領域提供了絕佳的性能、品質和價值。 可對各種樣品的表面形狀、曲率半徑和波前,進行精確且高重複性的量測。
wavelengths from 1.053um ~ 1.55um

量測IR光學零組件@波長1.053 ~1.55um

AccuFiz 紅外線干涉儀可精確測量紅外線光學元件和精密表面。 AccuFiz 紅外線雷射干涉儀非常適合測量凹面、凸面和無焦紅外線零件,以及紅外線望遠鏡和透鏡系統。 它們捕捉高斜率的能力不需透過CGH即可測量非球面光學元件。

在生產環境以及實驗室中,AccuFiz 提供業界領先的重複性。 只有 AccuFiz 包含 Smart Zoom™,以確保在整個 1X–10X 變焦範圍內精確的平面解析度。 突破繞射極限的成像提供了無與倫比的分辨率,特別是在中空頻率下,可測量其他干涉儀錯過的拋光痕跡。

AccuFiz NIR

@1.053 or 1.064um

AccuFiz SWIR

@1.55um

AccuFiz IR Specs
ConfigurationFizeau interferometers
AcquisitionTemporal phase shifting, optional vibration-immune dynamic
WavelengthNIR: 1.053, 1.064 µm
SWIR: 1.55 µm
ApertureNIR: 100 mm (4 in), 150  mm (6 in)
SWIR: 100 mm (4 in)
CameraNIR: 4MP, 12-bit (optional 2400 x 2400 at 1.064 µm)
SWIR: 512 x 512
ControlsRemote control focus, zoom
ZoomNIR: Continuous 1–10X  with pan;
SWIR: Continuous 1–10X  with pan;
Software4Sight™ Focus included
SizeNIR: 100 mm aperture:  51.4 cm (20.2 in) long; 150 mm aperture: 76.2 cm (30 in) long
SWIR: 51.4 cm (20.2 in) long
Reflectivities1 – 100%

4Sight Focus 軟體

全新的 4Sight Focus分析軟體 – 適用於4D所有的光干涉儀產品,可提供極快的取樣速度、豐富的視覺效果和完整的分析功能。

  • 快速量測和分析
  • 乾淨、可設定的使用者介面
  • 簡單易學
  • 深度分析能力
  • 輕鬆數據輸出
  • 智慧整合和自動化

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