PhaseCam ESPI

PhaseCam干涉儀使用4D Technology的專利動態干涉技術，可以在極短的時間內（通常是微秒級別）捕捉干涉條紋圖像，從而消除了環境干擾的影響。這使得本產品可以在不需要防震台…等裝置的情況下，仍就進行高精度的測量。

PhaseCam® ESPI 搭載了高功率 532 nm 的外部光源，可同時測量整個表面的變形，無需在測試物品上附加輔助光學元件。