4D 技術推動了許多干涉測量領域的最新重大進展，包括偏振的相移、短相干雷射干涉測量、抗振動散斑干涉量測...等。 4D 的客製化干涉儀和其他客製化計量解決方案，可讓4D 團隊充分發揮我們的創造力和專業知識來解決您的量測挑戰。 4D 客製化干涉儀和雷射干涉儀克服了從 DUV 到 IR 波長範圍內的各種惡劣環境、複雜設定和一切獨特的測量問題。 4D 還提供完整的客戶支援以及服務，以確保我們的客製化系統可以為您提供與 4D 常規產品相同的可靠性以及出色的產品性能。

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“The 4D Technology interferometer has enabled us to make measurements that were not previously possible, including measurements that are crucial to the success of the James Webb Space Telescope Project. The 4D system has exceeded our expectations.”
引述 — Mr. Babak Saif / 美國太空望遠鏡科學研究所 (Space Telescope Science Institute)

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