AccuFiz SIS 配件
Surface Isolation Source for measuring plane-parallel optics
專為測量平行透明光學元件而設計
Specialist of plane-parallel optics!!!
Accufiz SIS option
斐索干涉儀(Fizeau interferometers)
No more Coating!
無需進行任何塗層。即使在較薄的材料上，也可完美計算透射波前誤差、光學厚度和均勻性。
為何需要SIS這個配件？
平面平行光學元件是具有平行面的透明組件，或具有兩個或多個平行表面的系統。 使用干涉儀測量任何一個表面都是極為困難或不可能的，因為所有平行表面都會對產生干涉條紋，綜合加總之下，根本無法量測。
4D的SIS配件是一台選配的外部雷射光源，利用它可排除除感興趣表面之外的所有表面。 擁有SIS 模組即可讓您使用標準 AccuFiz 干涉儀測量透明光學的兩個表面。 您也可以透過單一測量設定計算透射波前誤差、光學厚度和均勻性。
可調節的路徑匹配機制提供了靈活性，讓您可以在距離孔徑 88 至 112mm的任何表面上進行量測。
| For use with AccuFiz Fizeau interferometers | |
|---|---|
| Source | Fiber-coupled short coherence |
| Wavelength | 635-640 nm diode |
| Output Power | 1–3 mW |
| Software | 4Sight™ Focus included |
| Size | 38.1 cm (15 in) long |
| Reflectivities | 1 – 100% (attenuation required) |
