AccuFiz SIS 配件
Surface Isolation Source for measuring plane-parallel optics
專為測量平行透明光學元件而設計
Specialist of plane-parallel optics!!!
Accufiz SIS option
斐索干涉儀(Fizeau interferometers)
No more Coating!
無需進行任何塗層。即使在較薄的材料上,也可完美計算透射波前誤差、光學厚度和均勻性。
![](https://4dtechnology.com.tw/wp-content/uploads/AccuFiz-with-Surface-Isolation-Source_hero.jpeg)
為何需要SIS這個配件?
平面平行光學元件是具有平行面的透明組件,或具有兩個或多個平行表面的系統。 使用干涉儀測量任何一個表面都是極為困難或不可能的,因為所有平行表面都會對產生干涉條紋,綜合加總之下,根本無法量測。
4D的SIS配件是一台選配的外部雷射光源,利用它可排除除感興趣表面之外的所有表面。 擁有SIS 模組即可讓您使用標準 AccuFiz 干涉儀測量透明光學的兩個表面。 您也可以透過單一測量設定計算透射波前誤差、光學厚度和均勻性。
可調節的路徑匹配機制提供了靈活性,讓您可以在距離孔徑 88 至 112mm的任何表面上進行量測。
For use with AccuFiz Fizeau interferometers | |
---|---|
Source | Fiber-coupled short coherence |
Wavelength | 635-640 nm diode |
Output Power | 1–3 mW |
Software | 4Sight™ Focus included |
Size | 38.1 cm (15 in) long |
Reflectivities | 1 – 100% (attenuation required) |