AccuFiz SIS 配件

Surface Isolation Source for measuring plane-parallel optics

專為測量平行透明光學元件而設計

Specialist of plane-parallel optics!!!

Accufiz SIS option

斐索干涉儀(Fizeau interferometers)

No more Coating!

無需進行任何塗層。即使在較薄的材料上,也可完美計算透射波前誤差、光學厚度和均勻性。

為何需要SIS這個配件?

平面平行光學元件是具有平行面的透明組件,或具有兩個或多個平行表面的系統。 使用干涉儀測量任何一個表面都是極為困難或不可能的,因為所有平行表面都會對產生干涉條紋,綜合加總之下,根本無法量測。

4D的SIS配件是一台選配的外部雷射光源,利用它可排除除感興趣表面之外的所有表面。 擁有SIS 模組即可讓您使用標準 AccuFiz 干涉儀測量透明光學的兩個表面。 您也可以透過單一測量設定計算透射波前誤差、光學厚度和均勻性。

可調節的路徑匹配機制提供了靈活性,讓您可以在距離孔徑 88 至 112mm的任何表面上進行量測。

For use with AccuFiz Fizeau interferometers
SourceFiber-coupled short coherence
Wavelength635-640 nm diode
Output Power1–3 mW
Software4Sight™ Focus included
Size38.1 cm (15 in) long
Reflectivities1 – 100% (attenuation required)

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