透鏡的設計基於傳輸特性，如：光斑尺寸和wavefront error。測量單一個透鏡表面與將透鏡安裝在裝置上再進行測試的結果，兩者呈現的情形不相同。
表面誤差、折射率不均勻性、安裝應力以及較大光學元件上的重力都會影響整體透射波前誤差 (TWE)。 透射波前誤差(TWE) 會使成像的效果變差並導致效能降低。製造方會藉由在透射波前誤差(TWE) 中設定公差並在生產的過程中進行測試，可以降低光學設計出現缺失並進而提高效能。
4D AccuFiz 微型雷射干涉儀和 PhaseCam 泰慢-格林動態干涉儀能夠準確地測量平面和聚焦光學元件中的透射波前誤差，能夠用於測試波長、確認孔徑尺寸以及滿足光學配件的各種調節需求。
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A new technique for vibration-insensitive measurement of transmitted wavefront error (TWE) improves repeatability by more than 7X.
Setting the Wedge Factor Tech Note
The Wedge Factor scales results to account for the geometry of an optical test setup. This tech note explains how to set the parameter for measuring wavefront error and surface height in common configurations.