進入稜鏡的光在射出之前可能會在一個或多個表面發生反射。由於稜鏡本身的厚度差異，光線在穿透時可能產生折射。 穿過直角稜鏡的光線會經過單一表面的反射，並與入射光呈現出 90 度的狀態。角錐反射稜鏡不受入射角度影響，能使射入的光線返回原點。 角錐稜鏡的使用範圍很廣，包括：衛星通訊、測量學、測距以及雷射共振腔。
製造商需要控管角錐稜鏡每個表面的品質以及面與面之間的相對角度。 測量這些光學元件與測量平面光學元件時遇到的困難相似：光程中的每個面會將部分的光反射回測量系統，因此產生複雜干涉圖。 測量稜鏡的正面特別具有挑戰性，因為過於亮的返回訊號會導致干涉紋路完全消失。
4D Technology 的 AccuFiz SIS斐索干涉儀使用短同調性來源，隔離棱鏡每個面的條紋。 AccuFiz SIS斐索干涉儀可用來測量稜鏡的角度和各個表面， 短同調性來源在測量角錐稜鏡的表面、雙面角誤差以及反射誤差時會阻擋干涉紋路，以便操作。
所有 4D 干涉儀均附有4Sight 軟體，軟體內包含角錐稜鏡和稜鏡分析，可突顯塗層和未塗層稜鏡的角度和表面。
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AccuFiz
AccuFiz 斐索干涉儀適用於各種侷限的空間。輕巧以及堅固的設計在各種測試環境下皆可發揮其穩定的特性。標準的AccuFiz雷射干涉儀提供波長從532nm~1.55um，口徑則可提供從33mm~600mm，並支援水平或垂直兩種量測模式。
AccuFiz SIS
SIS 是一套選配的外部雷射光源，針對量測路徑中含有兩個或以上的透明且平行的表面，本配件可以排除任一表面以外的所有内容。本模組讓您可以使用標準的 AccuFiz 干涉儀同时测量透明光學元件的两個表面。您還可以通過單一量測設置計算透射波前誤差、光學厚度和均匀性。
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AccuFiz laser interferometer with 4Sight software makes it simple to characterize the errors in corner cubes, including angle error and retroreflection calculations.
Setting the Wedge Factor Tech Note
The Wedge Factor scales results to account for the geometry of an optical test setup. This tech note explains how to set the parameter for measuring wavefront error and surface height in common configurations.