光通訊應用

讓數據傳輸更快

  在過去,通訊公司主要靠射頻 (RF) 通訊來傳輸資料。然而現在,這些公司正在尋求使用上行鏈路、下行鏈路及資料傳輸通訊的方法。

 

  光通訊的傳輸資料能力比射頻系統多數千倍。此外,此外,基於雷射的系統可大幅降低成本,且和射頻系統相比,更不容易受到偵測、攔截、幹擾和頻率幹擾的影響。

光學通訊的應對

凡涉及傳輸、中繼和接收訊號的光學元件和系統在每個功能波長上必須受到嚴格的控制。從20年前開始,4D 技術就一直引領著天文光學計量學的發展。 4D 提供多種方式來測量光學元件和系統的表面品質、透射波前的品質和表面粗糙度。

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表面形狀和透射波前質量

AccuFiz SWIR Fizeau 干涉儀和 PhaseCam Twyman-Green SWIR 干涉儀都可測量1550 nm 左右的波長。它們在光學測量方面的優點包括:

  • 可接受波長位於 C 波段的外部光源,使製造商能夠在每個工作波長測試光學元件和系統抗振性。
  • 可在任何環境中進行測量,無須隔離。
  • 緊湊、輕巧的設計可簡化測試
  • 可高精度得測量光學元件、非球面、光學系統和望遠鏡、棱鏡、角錐棱鏡等
  • 光學系統可實時的對準和準直。
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表面粗糙度

若表面粗糙度過高會使光束散射,導致訊號遺失、資料傳輸速率降低和串擾。NanoCam HD 光學輪廓儀可測量表面的粗糙度。 NanoCam 可安裝在機具上或使用手持的方式,可在光學元件周圍的多個位置快速測量,以確保粗糙度符合規格。

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AccuFiz SWIR

AccuFiz 斐索干涉儀適用於各種侷限的空間。輕巧以及堅固的設計在各種測試環境下皆可發揮其穩定的特性。標準的AccuFiz雷射干涉儀提供波長從532nm~1.55um,口徑則可提供從33mm~600mm,並支援水平或垂直兩種量測模式。
4D完整的產品線以及多種配件,提供更多樣的選擇以配合客戶各種應用以及需求。

PhaseCam SWIR

PhaseCam干涉儀使用4D Technology的專利動態干涉技術,可以在極短的時間內捕捉干涉條紋圖像,從而消除了環境干擾的影響。這使得本產品可以在不需要防震台…等裝置的情況下,仍就進行高精度的測量。

PhaseCam IR 系統非常適合長路徑(long path)紅外線光學量測、遠端安裝在測量塔或壓力容器中以及其他具有挑戰性的測試環境。

光學輪廓儀

NanoCam™ HD 動態輪廓儀,是少數可測量「公尺」級以上元件的量測設備,也同樣適用於各種精密金屬加工、塑膠和其他拋光鏡面的表面粗糙度量測需求