冷凍真空室和溫箱測試
太空光學元件的製造者和整合者為了確保元件的性能，會在低壓力且低溫的環境中進行測試。但由於環境測試室的低溫真空環境會引起泵浦和支援設備的劇烈振動，且計量儀器需維持在標準壓力和溫度下才能正常運作，因此，必須與被測試的元件距於數公尺，有時甚至需與數個光學視窗隔絕。
動態干涉技術®的瞬時測量，使得即使在泵浦和設備所引起的振動和亂流環境中，也能在環境測試室內測量光學元件且不需要防震桌的協助。
4D 動態雷射干涉儀具有多種波長選擇，可在低溫環境或其他具有挑戰性的測試條件下為可見光和紅外線光學元件提供合適的品質監控測試。
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AccuFiz
AccuFiz 斐索干涉儀適用於各種侷限的空間。輕巧以及堅固的設計在各種測試環境下皆可發揮其穩定的特性。標準的AccuFiz雷射干涉儀提供波長從532nm~1.55um，口徑則可提供從33mm~600mm，並支援水平或垂直兩種量測模式。
PhaseCam Vacuum-Compatible
PhaseCam® Vacccum 秉持一貫卓越的優異性能，配有4D的專利動態干涉技術(Dynamic Interferometry)，擁有便利的遠端操作能力，不鏽鋼外殼方便安裝於真空腔體或環控空間內。