非球面零件能夠降低光學組件的複雜性、成本、重量和尺寸。標準的平面和球面元件可以與性質類似但品質稍高的參照物進行對比；而非球面元件需要複雜的分析來確保性能表現。 輕微的偏差可以使用干涉儀進行測量，但較陡的斜面需要更高的成像解析度。較大的偏差則會在測試路徑中加入電腦生成全像 (CGH) 零校正器，以改變球面波前並配合非球面的表面，從而使干涉儀能夠順利進行測量。
Accuiz高解析度斐索干涉儀具有市場上最高的斜率接受度。 它可以校正輕微的非球面偏離，實現更簡單的非球面測試設定。
當需要 CGH 時，PhaseCam泰曼-格林干涉儀提供快速、非掃描式且全場域的測量。 目前正在進行的多項重要光學計畫都採用 CGH 來測量光學元件，包括 NASA 的韋伯太空望遠鏡。
