光通訊應用
讓數據傳輸更快
在過去，通訊公司主要靠射頻 (RF) 通訊來傳輸資料。然而現在，這些公司正在尋求使用上行鏈路（uplink）、下行鏈路（downlink）及資料傳輸等方法來進行通訊。和射頻系統相比，光通訊的傳輸資料能力比射頻系統多數千倍，此外，光通訊系統可大幅降低成本，和射頻系統相比更不容易被偵測、攔截和幹擾。
光學通訊的應對
凡涉及傳輸、中繼和接收訊號的光學元件和系統在每個功能波長上必須受到嚴格的控制。從20年前開始，4D Technology 就一直引領著天文光學計量學的發展。 4D Technology 提供多種方式來測量光學元件和系統的表面品質、透射波前的品質（transmitted wavefront quality）及表面粗糙度。
表面形狀和透射波前質量
AccuFiz SWIR 斐索干涉儀和 PhaseCam 泰曼-格林干涉儀都可測量1550 nm 左右的波長。它們在光學測量方面的優點包括：
- 可接受波長位於C-Band的外部光源，使製造商能夠在每個工作波長測試光學元件和系統的抗振性。
- 可在任何環境中進行測量，不會受到振動的影響
- 緊湊、輕巧的設計可簡化測試
- 可對光學元件、非球面、光學系統和望遠鏡、棱鏡、角錐棱鏡等…進行高精度的測量
- 可即時的對準和對直。
表面粗糙度
若表面粗糙度過高會使光束散射，導致訊號遺失、資料傳輸速率降低和串擾（ crosstalk）。NanoCam HD 光學輪廓儀可測量表面的粗糙度，可安裝在機具上或手持，可在光學元件周圍的多個位置快速測量。
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AccuFiz SWIR
AccuFiz 斐索干涉儀適用於各種侷限的空間。輕巧以及堅固的設計在各種測試環境下皆可發揮其穩定的特性。標準的AccuFiz雷射干涉儀提供波長從532nm~1.55um，口徑則可提供從33mm~600mm，並支援水平或垂直兩種量測模式。
4D完整的產品線以及多種配件，提供更多樣的選擇以配合客戶各種應用以及需求。
PhaseCam SWIR
PhaseCam干涉儀使用4D Technology的專利動態干涉技術，可以在極短的時間內捕捉干涉條紋圖像，從而消除了環境干擾的影響。這使得本產品可以在不需要防震台…等裝置的情況下，仍就進行高精度的測量。
