AccuFiz NIR Wavelength

Compact, high value Fizeau interferometers for infrared IR measurements.

High performance, quality and value, for accurate, repeatable measurement of surface shape and transmitted wavefront quality. 

業界最好的軟體!

4SIGHT 焦點軟件

4Sight Focus 可以在干涉儀到達之前提供高級模擬以便進行早期集成。遠程功能包括測量、分析、儀器和相機控制。

4Sight 焦點概述

4Sight™ Focus 軟件為輕鬆分析數據設立了新標準。4Sight Focus 的設計具有讓生活變得輕鬆的功能:Microsoft Windows® 界面、開放數據文件格式、廣泛的 2D 和 3D 顯示、實時對齊顯示、過濾、數據屏蔽、遠程測量、遠程分析功能等等。憑藉簡單的數據交換功能,您可以從幾乎任何數據分析軟件中讀取和分析數據。

除了控制我們行業領先的干涉儀和表面粗糙度輪廓儀外,4Sight Focus 還可以用作獨立工作站。它為您提供令人難以置信的分析能力,並且學習曲線短,無需連接到我們的任何儀器。

 

4Sight Focus 可以在干涉儀到達之前提供高級模擬以便進行早期集成。遠程功能包括測量、分析、儀器和相機控制。

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以下是為了能夠滿足段落所需的長度而定義的無意義內文,請自行參酌編排。

 

AccuFiz IR Specs

Configuration

Fizeau interferometers

Acquisition

Temporal phase shifting, optional vibration-immune dynamic

Wavelength

NIR: 1.053, 1.064 µm

SWIR: 1.55 µm

Aperture

NIR: 100 mm (4 in), 150  mm (6 in)

SWIR: 100 mm (4 in)

Camera

NIR: 4MP, 12-bit (optional 2400 x 2400 at 1.064 µm)

SWIR: 512 x 512

Controls

Remote control focus, zoom

Zoom

NIR: Continuous 1–10X  with pan;

SWIR: Continuous 1–10X  with pan;

Software

4Sight™ Focus included

Size

NIR: 100 mm aperture:  51.4 cm (20.2 in) long; 150 mm aperture: 76.2 cm (30 in) long

SWIR: 51.4 cm (20.2 in) long

Reflectivities

1 – 100%

功能介紹:

  1. 高精度與高解析度: 4D Technology 的位移計能提供極高的精度與解析度,即便是對於非常微小的表面不規則性或是結構變化,也能準確測量。
  2. 非接觸式測量: 這類位移計通常是非接觸式的,也就是說,它不需要直接接觸被測物體的表面。這種方式不但可以避免對被測物體的表面造成損害,而且可以測量到較為脆弱或是不容易接觸的表面。
  3. 寬範圍的測量距離: 這些位移計可以應對不同的測量距離,從幾微米到幾米的範圍都能夠處理。
  4. 即時測量與分析: 4D Technology 的位移計提供即時的測量與分析功能,這對於需要在產線上進行連續監控的應用非常重要。
  5. 自動化操作: 這些位移計可以很容易的與其他自動化設備或是系統集成,以達到自動化的操作與監控。

應用範疇:

4D Technology 的位移計因其高精度、高靈敏度和多功能性,廣泛應用於以下幾個領域:

  1. 半導體製程: 在半導體製造過程中,需要監控晶片表面的微結構變化,以確保產品的品質。

  2. 太陽能行業: 在太陽能電池板的製造過程中,需要確保其表面平整度以達到最佳的光學性能。

  3. 航太工業: 在飛機組件的製造過程中,需要監控其表面結構以確保其性能和安全性。

  4. 精密機械製造: 在精密機械製造過程中,需要監控各個組件的尺寸變化,以確保機械的正確組裝與運作。

4D Technology 的位移計具有高精度、高解析度、非接觸式測量、即時分析以及自動化操作等多項優點。它可以廣泛應用於半導體、太陽能、航太和精密機械等多個領域,對於提升產品的品質與效能,以及實現產線的自動化監控,具有非常重要的意義。

轉型

使用 4Sight 轉換錶面形狀和表面粗糙度數據既簡單又可靠。一般變換選項包括縮放、旋轉、翻轉 X、翻轉 Y、平移、高通和低通傅立葉濾波器、中值濾波器等等。4Sight™數據堆棧使得在不同激光干涉儀數據集之間進行算術運算變得非常容易。

TEST

分析

4Sight 為乾涉測量和激光干涉儀提供完整的分析軟件包,包括:斜率(X、Y、幅度)、直方圖、衍射分析(MTF、PSF、PSD 和自協方差)和幾何分析(點圖、環繞能量和平方能量圖。)。強大的 Zernike 分析包括 Zernike 工作表和 Zernike 表輸出屏幕。

4Sight 還提供表面粗糙度分析,包括 S 參數和 ISO 10110-5 分析。


靈活的探測器、分析、術語和光瞳掩模選項可以輕鬆實現複雜區域的子孔徑分析。周到的細節包括多島平整、多種集成算法單位轉換、用戶瞳孔定義等等。定制分析服務於特定應用,以獲得更大的效用。

功能特色

完整的4D InSpec 系統包括儀器、帶高清 1080p 觸摸屏界面的計算機、單以太網電纜繫繩、軟件和台式支架。還提供全套配件,包括便攜式工作站和運行時間長達 8 小時的鋰離子充電電池,以提高便攜性和生產力。

特徵分析

  • 點蝕
  • 邊緣斷裂
  • 鉚釘
  • 其他缺陷

通過標記

  • 項目1
  • 項目2
  • 項目3
  • 項目4

測量數據庫

  • 項目1
  • 項目2
  • 項目3
  • 項目4

可選邊材質

  • 項目1
  • 項目2
  • 項目3
  • 項目4

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